CARACTERISATION DE DEFAUTS PAR
TRAITEMENT DU SIGNAL
L. Paradis a , M. Serre a , J. Sallard a , F. Champigny b
a CEA CEREM, SACLAY, France - b EDF/GDL, SAINT DENIS, France
RESUME
Les informations de position et de dimension fournies par de nombreuses techniques de
contrôles par ultrasons ne sont pas suffisantes pour évaluer la nocivité des défauts. La
nature du défaut doit être également connue. L'identification des défauts plans, jugés les
plus dangereux, peut être obtenue par la mesure de la phase des échos de diffraction. Nous
décrivons les outils d'analyse, disponibles dans l'environnement logiciel CIVA, permettant
des mesures quantitatives de la phase instantanée des échos de diffraction. Des résultats
expérimentaux sur des défauts artificiels et réels sont présentés.
ABSTRACT
Signal processing for defect characterization
The knowledge of both location and size of the defect is not sufficient to assess its severity. The
nature of the defect must be known as well. The identification of planar defects, more
dangerous than the others, may be obtained by the measurement of the phase of the tip
diffraction echoes. We have developed a software, part of the CIVA system, performing
quantitative measurements of the instantaneous phase of the tip diffraction echoes.
Experimental results on both artificial and actual defect are given.
Source: Abstracts of the 1997 COFREND Congress on Nondestructive Testing, September 22-26, 1997 - Nantes France. Contact: cofrend@worldnet.fr.