CARACTERISATION DES DEFAUTS PROCHES
DE LA PAROI EXTERNE PAR UNE METHODE
D'IDENTIFICATION PARAMETRIQUE
M. Faur*, L. Paradis*, J. Oksman** et Ph. Morisseau***
(*CEA/CEREM - GIF-SUR-YVETTE - France)
(**Ecole Supérieure d'Electricité - GIF-SUR-YVETTE - France)
(***Intercontrôle - RUNGIS - France)
RESUME
Nous présentons une nouvelle méthode pour la caractérisation des défauts proches de la
paroi externe, à partir de leurs signatures contenues dans des images ultrasonores de type
Bscan. Il s'agit d'une méthode paramétrique d'identification fondée sur l'utilisation d'un
modèle direct représentatif de la relation de dépendance entre le défaut et l'image Bscan.
Une bonne approximation du défaut est obtenue par une procédure itérative de
minimisation d'un critère spécifique mesurant la dissimilarité entre les données
expérimentales et celles synthétiques.
ABSTRACT
An inverse method ofr outer surface cracks characterization
In this paper we propose a model-based inverse method for determining the outer surface
defect parameters from the ultrasonic Bscan images. The direct model predicts the ultrasonic
Bscan images from a priori knowledge of the piece and the defect within. A good
approximation of the defect is obtained by using an iterative minimization technique of a
specific criterion measuring the dissimilarity between the experimental and the synthetic data.
Source: Abstracts of the 1997 COFREND Congress on Nondestructive Testing, September 22-26, 1997 - Nantes France. Contact: cofrend@worldnet.fr.