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Sitzung: Durchstrahlungsprüfung
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Röntgen-Refraktions-Topographie von Hochleistungs-Werkstoffen

K.-W Harbich, M.P. Hentschel, A. Lange, J. Schors, BAM Berlin
ABSTRACT

Publication Source: DGZfP Jahrestagung Innsbruck, Mai 29-31, 2000
Publisher: DGZfP- [Homepage]

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