In den vergangenen Jahren gab es entscheidende Fortschritte bei der Entwicklung von Infrarotdetektoren. Auf dem Markt gibt es Focal-Plane-Array Kameras mit Temperaturauflösungen von wenigen mK und Bildfrequenzen bis über 1 kHz. Außerdem sind pyroelektrische Kamerasysteme verfügbar, die keine Kühlung des Detektors durch Stickstoff oder Sterling Motor (mechanische bewegte Teile) erfordern. Da auch die Preise von Infrarottechnik in den letzten Jahren einen deutlichen Trend nach unten zeigen, werden thermographische Prüfverfahren zunehmend für die Anwendung interessant. Die Vorteile sind eine berührungslose und in der Regel auch schnelle Prüfung. Die Verfahren eignen sich daher besonders für die Integration in den Fertigungsprozeß. Neue Gerätelösungen auf der Basis einer schnellen Hochgeschwindigkeits-Focal-Plane-Array-Kamera sowie einer pyroelektrischen Zeilenkamera und die erforderliche Auswertesoftware sollen an verschiedenen Applikationsbeispielen demonstriert werden. Bevorzugte Anwendungen sind die Messung von Schichtdicken, die Charakterisierung thermophysikalischer Eigenschaften von Beschichtungen sowie die Ermittlung von Delaminationen.

Für eine schnelle Prüfung sind Impulstechniken vorteilhaft. Zur Prüfung kontinuierlicher Prozesse können auch Raster-Verfahren auf der Basis von Lichtzeilen und Zeilenkameras eine kostengünstige Lösung sein.

Für die Überwachung thermischer Prozesse bei hohen Temperaturen wie beispielsweise Schweißprozessen genügt die Anwendung kostengünstiger Kamerasysteme mit Siliziumdetektoren.

Zur Durchführung emissivitätskorrigierter Messungen wurde das Mehrkanalprinzip entwickelt, bei dem thermographische Bilder aus mehreren Spektralbereichen softwaremäßig so verknüpft werden, daß eine ortsaufgelöste Messung der Temperatur und der Emissivität bei verschiedenen Wellenlängen erfolgt.

Für die Auswertung thermographischer Bildfolgen steht die im IZFP entwickelte Software TERMview zur Verfügung. Der Beitrag stellt verschiedene neuere Gerätelösungen und Anwendungsbeispiele vor.