Der Vortrag berichtet über die verwendete Prüfeinrichtung, die Entwicklung von fokussierten Prüfköpfen und über Prüfererbnisse an CFK-Probekörpern mit unterschiedlichen Fehlstellen. Beispiel-haft ist hier ein C-Bild einer 15 mm dicken CFK-Gewebe-Sandwich -Probe dargestellt. Die Prüfung mit Ankopplung Ÿber Luft erfolgte in Durchschallung mit fokussierten 450 kHz - Prüfköpfen. Der 10J-Impact verursacht Amplitudenabnahme von mehr als 30 dB. Au§erdem zeichnen sich Wabenstrukturen in der Größen-ordnung von 2 mm deutlich ab. Um auch bei einer einseitigen Zugäng-lichkeit des Bauteils prüfen zu kšnnen, wird auch die Anregung von Plattenwellen untersucht.