NDT.net - July 1999, Vol. 4 No. 7

Experiences with an amorphous silicon array detector in an ADR application

Th. Jaeger, U. Heike, K. Bavendiek, YXLON, Hamburg, D
Corresponding Author Contact:
Email: yxlon@hbg.yxlon.com

International Symposium on Computerized Tomography for
Industrial Applications and Image Processing in Radiology
March, 15 - 17, 1999 Berlin, Germany Proceedings BB 67-CD
published by DGZfP
TABLE OF CONTENTS


Abstract

Introduction

Amorphous silicon array detector

The fully automated YXLON X-ray inspection unit MU69

Application

Conclusion

References

  1. EG&G Heimann Optoelectronics: Radiation Image Detectors, datasheet RID 512- 400, Wiesbaden, Germany, 1997
  2. K. Bavendiek, A. Krause, A. Beyer: Durchsatzerhöhung in der industriellen Röntgenprüfung - Eine Kombination aus innovativem Prüfablauf und optimierter Bildauswertung, Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V., Jahrestagung, Bamberg, Germany, 1998
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