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NDT.net Issue - 2008-03 - NEWS
NDT.net Issue: 2008-03
Publication: e-Journal of Nondestructive Testing (NDT) ISSN 1435-4934 (NDT.net Journal)
NEWS

14. Keramik-Tag in der BAM: Prozessbegleitende Prüfung in der Keramik

BAM Federal Institute for Materials Research and Testing1326, Berlin, Germany

Am 8. und 9. Mai 2008 findet in der BAM der 14. Keramik-Tag statt, er steht unter dem Motto "Prozessbegleitende Prüfung in der Keramik". Die Fachgruppe Hochleistungskeramik der BAM veranstaltet dieses Symposium gemeinsam mit der Deutschen Keramischen Gesellschaft (DKG), verschiedenen Fachausschüssen von DKG und DGM sowie der Abteilung Hochleistungskeramik der Eidgenössischen Materialprüfungs- und Forschungsanstalt (EMPA).

Sowohl in der klassischen Silikatkeramik als auch bei der Herstellung keramischer Hochleistungswerkstoffe ist die prozessbegleitende Prüfung ein unverzichtbares Instrument, um die Qualität der Produkte zuverlässig zu sichern. In den vergangenen Jahren wurde ein vielfältiges Instrumentarium an Prüfverfahren entwickelt, mit dem Aufbereitung, Formgebung und thermische Prozesse optimiert und die Reproduzierbarkeit aller Verfahrensschritte überwacht werden.

Nachdem einleitend die besondere Bedeutung prozessbegleitender Prüfverfahren für die Qualitätssicherung thematisiert wird, beinhalten weiteren Vorträge am ersten Tag des Symposiums sowohl Übersichten zum Stand der Technik in der prozessbegleitenden Prüfung als auch Ansätze für neue Prüfverfahren zur Bewertung von Rohstoffen und keramischen Zwischenprodukten (Schlicker, Granulate, Grünkörper).

Im Mittelpunkt des zweiten Tages des Symposiums stehen bereits eingeführte aber auch in der Entwicklung befindliche in-situ Prüftechniken zur kontinuierlichen Überwachung von Charakterisierung von Aufbereitungs-, Formgebungs-, Entbinderungs- und Sinterprozessen.

Kontakt:
Dr. Torsten Rabe
Fachgruppe V.4 Hochleistungskeramik, Arbeitsgruppe Funktionskeramik und Multilayertechnik
Telefon: +49 30 8104-1542, E-Mail: torsten.rabe@bam.de

Keywords: ceramic (54), in-process (187), event (33),
*Keywords are freely formed keywords from the authors and thus you may Search also for similar terms. DE  


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