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NDT.net Issue - 2010-07 - NEWS
NDT.net Issue: 2010-07
Publication: e-Journal of Nondestructive Testing (NDT) ISSN 1435-4934 (NDT.net Journal)
NEWS

Neue BAM-Fachgruppe VIII.5 Mikro-ZfP

BAM Federal Institute for Materials Research and Testing1325, Berlin, Germany

Mikrosysteme sind seit über 20 Jahren zunehmend zum funktionsbestimmenden Bestandteil unserer technischen Umgebung geworden. Zahlreiche technische Produkte sind ohne Mikrosystemtechnik nicht realisierbar, z. B. Computer, Mobiltelefone, Drucker, Kopierer oder Unterhaltungsmedien.

Weite Bereiche der mechanischen und elektronischen Mikrosystemtechnik, z. B. die Mechatronik und kleine Komponenten aus Verbund- und Nanowerkstoffen, sind bislang nur unzureichend zerstörungsfrei prüfbar.

Deshalb wurde in der BAM eine neue Fachgruppe gegründet, die sich mit der zerstörungsfreien Prüfung von sicherheitsrelevanten Komponenten und Strukturen unterhalb des bisherigen Größenbereichs befasst. Damit sollen die technische Sicherheit erhöht und neue technisch wie wirtschaftlich praktikable Lösungen angeboten werden.

Kontakt:
Dr.-Ing. Heinrich Heidt
Abteilung VIII Zerstörungsfreie Prüfung, Fachgruppe VIII.5 Mikro-ZfP
Telefon: +49 30 8104-1800, E-Mail: heinrich.heidt@bam.de

 DE  
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