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NDT.net Issue - 2009-07 - NEWS
NDT.net Issue: 2009-07
Publication: e-Journal of Nondestructive Testing (NDT) ISSN 1435-4934 (NDT.net Journal)
NEWS

BAM-Mitarbeiter mit der Röntgen-Plakette geehrt

BAM Federal Institute for Materials Research and Testing1298, Berlin, Germany


Dr. U. Ewert (rechts im Bild) und Prof. Dr. M. Hennecke beim Festakt zur Verleihung der Röntgenplakette
Dr. Uwe Ewert, Leiter der Fachgruppe Radiologische Verfahren, wurde am 9. Mai 2009 mit der Röntgen-Plakette ausgezeichnet. Er erhielt diese Auszeichnung für seine „Leistungen auf dem Gebiet der industriellen digitalen Radiologie, insbesondere für die Entwicklung mobiler, laminographischer Messverfahren und der Hochkontrastempfindlichkeitstechnik“.

Die Stadt Remscheid und die Gesellschaft der Freunde und Förderer des Deutschen Röntgen-Museums vergeben seit dem Jahr 1951 diese Auszeichnung an herausragende Wissenschaftler. Damit soll an die wissenschaftlichen Verdienste von Wilhelm Conrad Röntgen erinnert werden. Unter den Plakettenträgern finden sich acht Nobelpreisträger, darunter der Physiker Max von Laue.

Die Forschungsarbeiten von Dr. Ewert und seiner Fachgruppe tragen dazu bei, Materialfehler bei Werkstoffen und Bauteilen zu entdecken und damit letztendlich Unfälle zu vermeiden. Auch bei der Kriminalitätsbekämpfung und Altlastenbeseitigung fließen die Forschungsergebnisse der Wissenschafter der BAM ein. Sie nutzen Röntgen-, Gamma-, Elektronen- und Neutronenstrahlen, um zerstörungsfrei Gefahrgutbehälter auf Risse, Schweißnähte auf Fehler zu untersuchen oder versteckte Waffen im Handgepäck eines Fluggastes aufzuspüren.

Dr. Ewert hat sich elf Prüfverfahren patentieren lassen, darunter eine mobile Prüfung von Schweißnähten.

Kontakt:
Dr. rer. nat. Uwe Ewert Articles
Abteilung Zerstörungsfreie Prüfung, Fachgruppe Radiologische Verfahren
Telefon: +49 30 8104-1830, E-Mail: uwe.ewert@bam.de

 DE  
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