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DGZfP 2014

DGZfP Jahrestagung 2014, Potsdam, Germany, May 2014

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Keywords Authors & Institutions
"Waygate Technologies (former GE Inspection Technologies)"
Search Results: 6 in Date '2015-03-01'      Search  
Title / Author(s) / Keywords Session
Ausbildung, Akkreditierung, Zertifizierung, Normung
Die neuen Normen für das Ultraschallprüfen mit Phased-Arrays und ihre Umsetzung
J. Büchler24, U. Schlengermann20
Waygate Technologies (former GE Inspection Technologies)313, Hürth, Germany
DE
Ausbildung, Akkreditierung, Zertifizierung, Normung
Computertomographie
CT & Metrologie Anwendung der VDI/VDE Richtlinie 2630 und Optimierung des Systems
A. Suppes11, E. Neuser15
GE Inspection Technologies69, Wunstorf, Germany
DE
Computertomographie
Phased Array
Automatisierte Prüfung von Eisenbahnvollwellen unter besonderer Berücksichtigung der Geometrieeinflüsse
W. Kleinert19, P. Chinta13
Waygate Technologies (former GE Inspection Technologies)313, Hürth, Germany
DE
Phased Array
Ultraschallverfahren - Phased Array
Präzise AVG-Bewertung mit Gruppenstrahler-Winkelprüfköpfen für alle Winkel
W. Kleinert19, Y. Oberdörfer9
Waygate Technologies (former GE Inspection Technologies)313, Hürth, Germany
DE
Ultraschallverfahren - Phased Array
Vorträge der Mitgliedergruppe B
Neueste Prüfgeräte für den Anwender
U. Roes, J. Büchler24
Waygate Technologies (former GE Inspection Technologies)313, Hürth, Germany
DE
Vorträge der Mitgliedergruppe B
Vorträge der Mitgliedergruppe B
Neue Produkte für die Röntgenprüfung im mobilen Einsatz und in der produktionsnahen Computer Tomographie
E. Neuser15
Phoenix X-ray; GE Inspection Technologies69, Wunstorf, Germany
DE
Vorträge der Mitgliedergruppe B
   
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