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"GE Inspection Technologies"
Search Results: 3 in Date '2011-06-01'      Search  
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Publications
iCT 2008 (3)
iCT 2010 (2)
Title / Author(s) / Keywords Publication
iCT 2010 Spezielle tomografische Verfahren
Vergleich zwischen Labor-CT und Synchrotron-basierter Computertomographie mit sub-Mikrometer-Auflösung
O. Brunke23, S. Becker9
Phoenix X-ray; GE Inspection Technologies69, Wunstorf, Germany

DE
iCT 2010
Session: Spezielle tomografische Verfahren
iCT 2008 Geometriebestimmung
Dimensionelles Messen in der ?CT - Charakterisierende Kenngrößen
A. Suppes11, E. Neuser15
Phoenix X-ray; GE Inspection Technologies69, Wunstorf, Germany

DE
iCT 2008
Session: Geometriebestimmung
iCT 2008 Spezielle tomografische Verfahren
Mit nanoCT verborgene Mikrostrukturen dreidimensional analysieren
O. Brunke23
Phoenix X-ray; GE Inspection Technologies69, Wunstorf, Germany

DE
iCT 2008
Session: Spezielle tomografische Verfahren
   
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